中镜科仪®基底材料系列是为用于SEM,AFM,X射线分析,电子探针显微镜等设备表征时的样品提供各种类型的基底材料。随着各种制备手段的提高,基底材料的特性将很大程度上影响材料的生长过程。基底材料的特有属性(如光、电、磁等属性)也会影响到样品的表征。所以基底的正确选择对于样品的制备过程与表征结果有着重要的意义
产品优势
中镜科仪®基底材料系列是为用于SEM,AFM,X射线分析,电子探针显微镜等设备表征时的样品提供各种类型的基底材料。随着各种制备手段的提高,基底材料的特性将很大程度上影响材料的生长过程。基底材料的特有属性(如光、电、磁等属性)也会影响到样品的表征。所以基底的正确选择对于样品的制备过程与表征结果有着重要的意义
物理性质
产品说明、建议
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